产品名称：IDEAOPTICS复享 MetronLens 超构透镜光学检测系统

   型号

信息详情

  MetronLens:

光场检测 + 远场检测

  MetronLens-Phi:

相位检测 + 光场检测 + 远场检测

   项目内容

信息详情

   测量模式：

透射光场分布检测，透射远场分布检测

   可测量光学参数： 

光场分布、焦距、数值孔径、PSF、MTF、相对聚焦效率、成像分辨率、远场分布

   系统数值孔径： 

0.75 @ 40X

   视野范围： 

Φ0.5mm @ 40X，Φ4mm @ 5X

   空间分辨率： 

0.45μm @ 40X，2.35μm @ 5X

   z 轴扫描精度： 

±1μm (0~1mm 行程)，±3μm (1~22mm 行程)

   焦距*大测量范围： 

5mm

    标配光源：

532nm 光纤连续激光器

   入射平行光发散角： 

0.2°

   光源拓展接口： 

1 个 FC/APC 接口

   项目内容

信息详情

    测量模式：

透射相位分布检测，透射光场分布检测，透射远场分布检测

    可测量光学参数：

相位分布、波像差、泽尼克像差、光场分布、焦距、数值孔径、PSF、MTF、相对聚焦效率、成像分辨率、远场分布

    系统数值孔径： 

0.75 @ 40X

    视野范围：

Φ0.5mm @ 40X

    空间分辨率：

0.6μm @ 40X

    相位测量分辨率 (RMS)：

50mrad

    相位测量波像差： 

0.05λ

    z 轴扫描精度：

±1μm (0~1mm 行程)，±3μm (1~22mm 行程)

    焦距*大测量范围：

5mm

    标配光源：

457nm、532nm、660nm 空间光连续激光器

    入射平行光发散角：

0.1°

    光源拓展接口：

1 个 FC/APC 接口、1 个空间光接口

   型号

信息详情

  偏振扩展:

偏振扩展：支持实现入射 / 接收偏振加载，适配 4mm 厚度偏振片

  定制服务:

定制服务：支持其他激光波长扩展定制

   超构表面(Metasurface) 

微透镜阵列

(Microlens Array，MLA)

衍射光学元件(Diffractive Optical Elements, DOE) 

是一种由亚波长的微纳结构组成的平面结构，可以高自由度的对光波进行调控和操纵，因此超构表面的研究需要测量它所调控的光场分布和相位分布。

是由尺寸只有几十微米和数百微米的微型透镜构成的阵列，因此微透镜阵列的研究需要微米尺度的单透镜检测能力。

是基于光的衍射效应而设计的光学元件，核心是对光的相位进行调制，需要高分辨率的相位测量。