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  • 产品名称：CIQTEK 国仪量子 SEM3200 钨灯丝扫描电子显微镜

  • 产品型号：
  • 产品厂商：CIQTEK国仪量子
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简单介绍：
CIQTEK 国仪量子 SEM3200 钨灯丝扫描电子显微镜
详情介绍：

CIQTEK 国仪量子 SEM3200 钨灯丝扫描电子显微镜




SEM3200 是一款综合能力**的通用型立式钨灯丝扫描电镜。独特的电子枪双阳极结构，保证了低电压下的分辨率和更好的图像信噪比。另外有诸多的可选配附件选择，使得SEM3200成为了一款应用广泛的综合分析仪器。





技术特点

双阳极结构

中间阳极处于韦氏帽和阳极之间，在低压下，可提高电子束的拔出效率，分辨率可提升10%，信噪比可提升30%。

低真空模式一键切换

> 提供 5~180 Pa（免光阑）与 180~1000 Pa（配压差光阑）两段模式，从容应对各类复杂样品的检测需求。 > 特殊设计的物镜真空腔体，低真空分辨率仍能保持在 3 nm@30 kV，确保绝缘材料也能获得清晰的表面细节。 > 利用气体电离原理有效中和表面荷电，非导电样品无需喷金即可直接进样，大幅缩短检验周期并避免掩盖表面真实纹理。

扩展功能

颗粒和孔腺分析软件

采用的算法可对多种目标检测和分割，适用不同的颗粒和孔隙类样品。可完成颗粒和孔隙统计的定量分析，可应用于材料科学、地质科学、环境科学等领域。 > 使用Mask-RCNN目标检测与实例分割算法，无需调参即可精准识别图像中的粒子 > 经典分水岭算法及集合轮廓非凸切割法针对粘连重叠粒子的精准切割 > 颗粒物统计和孔隙分析两种模式 > 多种形态学信息统计分析与导出，如粒度数量，平均面积，粒径，孔隙率等 （Mask-RCNN：Mask Region-based Convolutional Neural Network是一种用于目标检测和实例分割的深度学习模型）

软件开发工具包（SDK）

提供了一套控制扫描电镜的接口，如图像采集、工况设置、开关机、位移台控制等。简明的接口定义，可快速开发特定的电镜运行脚本和软件，实现自动追踪感兴趣区域、工业自动化采集、图像漂移矫正等功能。可进行硅藻自动分析、钢铁夹杂物、清洁度分析、原材料控制等特色软件的开发。 > 支持常用编程语言，如C++、Python、C#…… > 完善的接口定义和说明文档 > 提供C++和Python调用案例 > 可实现扫描电镜的全部功能控制

应用案例

电子半导体

在半导体行业内，制程工艺会伴随各种微观缺陷，为了保障芯片的高良率，会引入专业的微观表征设备进行检测，其中利用扫描电镜进行高分辨形貌分析是不可或缺的排查手段。

SEM3200/光刻胶/15 kV/ETD

SEM3200/芯片表面/10 kV/ETD

SEM3200/开封芯片/10 kV/ETD

SEM3200/芯片截面/15 kV/BSED

锂电池/新能源材料

在新能源与锂电池制造中，材料的微观缺陷极易引发热失控，为了保障电芯的****与性能，需要利用扫描电镜进行正负极材料和隔膜材料的检测。

SEM3200/负极极片/10 kV/BSED

SEM3200/隔膜/15 kV/ETD

SEM3200/锂电负极-硬碳/10 kV/ETD

SEM3200/导电集流体-生箔/10 kV/ETD

金属材料

在金属材料研发与制造中，零部件常遭遇疲劳或腐蚀失效，为了探究其根本原因，需要借助专业的显微结构表征设备进行检测，其中扫描电镜是极为重要的设备之一。

SEM3200/2A12铝合金析出相/15 kV/BSED

SEM3200/金属金相组织/10 kV/ETD

功能材料与新材料

在功能与新材料的研发中，微观形貌与特殊结构直接决定其*终性能。扫描电镜作为专业表征工具，可以很好的对新材料的微观形貌表征。

SEM3200/氧化锆/10 kV/ETD

SEM3200/硫化钼/5 kV/ETD

高分子材料

在高分子材料研发与改性中，微观形貌与断口结构直接决定性能，为了探究其内在机理，利用扫描电镜进行低电压形貌观察是非常重要的表征方法。

SEM3200/高分子纤维断面/15 kV/ETD

SEM3200/静电纺丝/5 kV/ETD

生命与食品工程

在生命医药与食品工程中，组织形态与成分的微观结构直接关乎生理演变或口感风味。借助扫描电镜可深度观察生物大分子与食品原料的立体形貌。

SEM3200/红豆截面/20 kV/低真空70 Pa/BSED

SEM3200/花粉 /10 kV/ETD

产品参数

关键参数： 电子枪类型 预对中型发叉式钨灯丝电子枪
分辨率 3 nm @ 30 kV，SE
7 nm @ 3 kV，SE
4 nm @ 30 kV，BSE
加速电压 20 V ~ 30 kV
放大倍率 1 ~ 300000 x
位移台（大行程可选）： 位移台类型 五轴机械优中心位移台
探测器 旁侧电子探测器 (ETD) ●
悬挂式背散射电子探测器 (BSED) ○
插入式背散射电子探测器 (BSED) ○
插入式扫描透射电子探测器 (STEM) ○
能谱仪 (EDS) ○
背散射衍射 (EBSD) ○
扩展 低真空模式 ○
硬件防碰撞 ○
双阳极 ○
样品交换仓
旋钮板&轨迹球
*可接受微定制服务 ● 标配 ○ 选配
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