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  • 产品名称：CIQTEK 国仪量子 Scanning Nitrogen -Vacancy Microscope 扫描NV探针显微镜

  • 产品型号：
  • 产品厂商：CIQTEK国仪量子
  • 电话：13246646513 13682357549
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简单介绍：
CIQTEK 国仪量子 Scanning Nitrogen -Vacancy Microscope 扫描NV探针显微镜
详情介绍：

CIQTEK 国仪量子 Scanning Nitrogen -Vacancy Microscope 扫描NV探针显微镜



扫描NV探针显微镜是一款结合了金刚石氮-空位色心光探测磁共振技术和原子力显微镜扫描成像技术的量子精密测量仪器，可用于自旋电子学、多铁性材料、二维磁性材料、超导材料等材料的研究。




核心模块
探头设计
光路设计
金刚石NV探针
扫描NV探针的实物图、SEM图（单纳米柱以及阵列式）、NV荧光图、CW谱以及单NV计数率曲线

>支持单Pillar金刚石NV探针和阵列式金刚石NV探针

>荧光计数率: ≥300 kcps

>对比度≥20%

*以上数据均为我司实测采集
测试案例
超导

YBCO @60 K, 5 G

YBCO @60 K, 5 G

YBCO @60 K, 10 G

铁磁&反铁磁

CoFeB @4.2 K

TMD(2D magnetic materials)

Pt/Co/Ag @300 K

CoFeB @2 K

MAFO @300 K

TmIG @300 K

LSMO @300 K

YIG @300 K

TmFeO3 @300 K

micromagnet @300 K

CoFeB @300 K

BFO @300 K

多种测量模态

CFM mode

MoS₂ @2 K, 2 T

MFM mode

FeSi @4.2 K

AFM mode

Optical grating @300 K

产品参数
核心参数： 低温版 室温版
磁测量灵敏度： ≤5 μT/Hz1/2 ≤2 μT/Hz1/2
空间分辨率 10~30 nm 10~30 nm
工作温度 2 K ~ 300 K 300 K
核心功能： SO-B Mode (等高线模式)、Dual-B Mode (双等高线模式)、
Full-B Mode (定量模式)、Quenching Mode (荧光模式)、
AFM mode、MFM mode、CFM mode
超导磁体选件： 1 T/0.1 T/0.1 T，
9 T/0.1 T/0.1 T，
9 T/1 T/1 T 		0～50 mT






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