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SPARK闪光 easyLIGH 紧凑型平场XUV光谱仪
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制*佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和**开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球**的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与**。
产品简介
平场、垂直入射光谱仪
专有的无狭缝设计以保证*高效率
波长范围30 ~ 250 nm
同品类中*紧凑的光谱仪
模块化、成套设计
easyLIGHT XUV以****的效率提供宽带光谱测量。 无狭缝设计直接对辐射源成像,从而消除了繁琐的入口狭缝。 30至250nm的光谱范围方便地涵盖了HHG和等离子体诊断中的许多应用。 与掠入射光谱仪相比,easyLIGHT XUV的垂直入射设计可提供简单的安装和对准。 模块化设计与各种实验几何形状和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狭缝固定器和闭环电动光栅定位功能。
探测器可选类型:
VUV CCD相机具有*高的分辨率和动态范围
MCP、CMOS探测器具有*宽的波长覆盖范围和门控及增强探测器能力
基于easyLIGHT光谱仪的定制设计可讨论
无狭缝设计
HPS公司专有的光谱仪设计可用于直接源成像。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以*大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。
结果
使用 easyLIGHT XUV 表征 DELTA 短脉冲设施的超短同步辐射脉冲。在没有(左图)和有(右图)频率啁啾的情况下,在六次谐波中观察到 800 nm 种子激光的光谱相位的影响。使用强啁啾激光脉冲进行播种会产生作为 R56 函数的抛物线特征,与模拟结果一致。
测量基于 CO2 的低温等离子体发出的辐射。基于氙气吹靶的激光产生的等离子体 EUV 源用于照射和电离二氧化碳气体。在 VUV 范围内,可以看到与 CI、C II 和 OI 相对应的多条发射线以及 CO 分子带。
技术参数:
| Topology/类型 | aberration-corrected flat-field spectrometer像差校正平场入射光谱仪 |
| 波长范围 | 30-250nm |
| 光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 |
| 探测器类型 | CCD /MCP/CMOS |
| 真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制) |
| 无狭缝技术 | 含 |
| 输入狭缝 | 可选 |
| 光栅定位 | 闭环电控台 |
| 滤光片插入单元 | 含 |
| 数据接口 | USB or Ethernet |
| 软件 | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
| 定制能力 | 可根据需求定制 |
| 其余可选项 | 非磁性,旋转几何等 |
| 色散能力 | ~2.0nm/mm |
| 分辨率 | <0.1nm |
| 平场面物理尺寸 | 75mm |
| 偏差角 | 94° |
应用
高次谐波光源
阿秒科学
强激光与物质相互作用
激光和放电产生等离子体源
同步辐射光束表征
自由电子激光
手机/微信:13682357549 13246646513 QQ:672776553 564600083 1903656788 Email:672776553@qq.com 564600083@qq.com