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  • 产品名称:SPARK闪光 easyLIGH 紧凑型平场XUV光谱仪

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  • 产品厂商:SPARK闪光
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SPARK闪光 easyLIGH 紧凑型平场XUV光谱仪
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SPARK闪光 easyLIGH 紧凑型平场XUV光谱仪




easyLIGHT XUV以****的效率提供宽带光谱测量。无狭缝设计直接对辐射源成像,从而消除了繁琐的入口狭缝。30至250nm的光谱范围方便地涵盖了HHG和等离子体诊断中的许多应用。与掠入射光谱仪相比,easyLIGHT XUV的垂直入射设计可提供简单的安装和对准。模块化设计与各种实验几何形状和配置相匹配。easyLIGHT具有集成的狭缝固定器和闭环电动光栅定位功能。
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德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制*佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和**开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球**的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与**。

产品简介

平场、垂直入射光谱仪

专有的无狭缝设计以保证*高效率

波长范围30 ~ 250 nm

同品类中*紧凑的光谱仪

模块化、成套设计

easyLIGHT XUV以****的效率提供宽带光谱测量。 无狭缝设计直接对辐射源成像,从而消除了繁琐的入口狭缝。 30至250nm的光谱范围方便地涵盖了HHG和等离子体诊断中的许多应用。 与掠入射光谱仪相比,easyLIGHT XUV的垂直入射设计可提供简单的安装和对准。 模块化设计与各种实验几何形状和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狭缝固定器和闭环电动光栅定位功能。

探测器可选类型:

VUV CCD相机具有*高的分辨率和动态范围

MCP、CMOS探测器具有*宽的波长覆盖范围和门控及增强探测器能力

基于easyLIGHT光谱仪的定制设计可讨论

无狭缝设计

HPS公司专有的光谱仪设计可用于直接源成像。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以*大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

结果

使用 easyLIGHT XUV 表征 DELTA 短脉冲设施的超短同步辐射脉冲。在没有(左图)和有(右图)频率啁啾的情况下,在六次谐波中观察到 800 nm 种子激光的光谱相位的影响。使用强啁啾激光脉冲进行播种会产生作为 R56 函数的抛物线特征,与模拟结果一致。

测量基于 CO2 的低温等离子体发出的辐射。基于氙气吹靶的激光产生的等离子体 EUV 源用于照射和电离二氧化碳气体。在 VUV 范围内,可以看到与 CI、C II 和 OI 相对应的多条发射线以及 CO 分子带。

技术参数:

Topology/类型 aberration-corrected flat-field spectrometer像差校正平场入射光谱仪
波长范围 30-250nm
光源距离 可根据用户实际光路灵活调整
探测器类型 CCD /MCP/CMOS
真空兼容度 <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制)
无狭缝技术
输入狭缝 可选
光栅定位 闭环电控台
滤光片插入单元
数据接口 USB or Ethernet
软件 Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK
定制能力 可根据需求定制
其余可选项 非磁性,旋转几何等
色散能力 ~2.0nm/mm
分辨率 <0.1nm
平场面物理尺寸 75mm
偏差角 94°

应用

高次谐波光源

阿秒科学

强激光与物质相互作用

激光和放电产生等离子体源

同步辐射光束表征

自由电子激光







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