产品名称：SPARK闪光 maxLIGHT 无狭缝XUV光谱仪和光束分析仪

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制理想解决方案，是科学仪器的全球供应商和**开发商。产品线包括XAS系统，XUV/VUV/X-ray光谱仪，Beamline产品等。主要团队由X-ray、光谱、光栅设计、等离子体物理、Beamline等领域的专家组成。并与全球**的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与**。

maxLight产品优势

● 平场掠入射光谱仪

●专有的无狭缝设计

●极高衍射效率光栅

● 波长范围从1到200nm

●内置光斑图像分析功能

● 紧凑、模块化设计

得益于其无狭缝设计，maxLIGHT提供业界极高的光收集效率和极高的光通量。经像差校正的平场波长覆盖范围为1nm至200nm，具有广泛的光谱带宽，例如每个光栅5-80nm。模块化设计匹配各种实验环境和配置。maxLIGHT具有集成的狭缝支架和滤波器插入单元以及电动光栅定位器。

灵活完善的探测器选项：

用于高分辨率和高动态范围的XUV CCD相机

用于*宽波长覆盖和门控以及增强探测的MCP/CMOS检测器。

无狭缝设计

HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。因此，不需要狭窄的入口狭缝，并且可以很大程度地收集入射光。与传统的光谱仪架构相比，到达探测器的光强会高出20倍，该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

测量结果

在使用阿秒XUV脉冲的符合光谱应用中，通过maxLIGHT XUV(左图)对HHG进行表征。高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头)，而XUV和IR光的双光子跃迁则呈现为光电子谱的边带(右图)。

通过maxLIGHT XUV测量的HHG光谱(右图)和25fs基频光脉冲在kagomé光子晶体光纤中宽化的光谱(左图)。随着泵浦能量的增加，孤子蓝移对HHG的影响清晰可见。

在相同的信号强度下，与标准光谱仪(虚线)相比，maxLIGHT pro光谱仪(实线)的分辨率明显更高。要获得等价的光谱分辨率，传统光谱仪技术需要设置窄狭缝，从而显著降低信号强度。

用maxLIGHT XUV获得的150kHz重频下截止区域内的HHG光谱。CEP的变化显示出在某些CEP设置下强度调制开始消失，表明了独立阿秒脉冲的存在。

参考光谱示例证明了maxLIGHT光谱仪的分辨能力。如图所示为飞秒激光脉冲和固体靶相互作用后，经滤光片过滤后的高次谐波谱。谐波产生过程中所固有的精细结构谱可以被maxLIGHT光谱仪清晰地分辨出来。图片上半部分：由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。 图片下半部分：通过列合并获得的谐波谱。

技术参数：

典型应用：

● 高次谐波产生源;

● 阿秒科学

●强激光与物质相互作用

● 自由电子激光器

● 激光与放电产生的等离子体源