产品详情
  • 产品名称:CIQTEK 国仪量子 SEM4000X 高性能扫描电子显微镜

  • 产品型号:
  • 产品厂商:CIQTEK国仪量子
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简单介绍:
CIQTEK 国仪量子 SEM4000X 高性能扫描电子显微镜
详情介绍:

CIQTEK 国仪量子 SEM4000X 高性能扫描电子显微镜




SEM4000X(G2)扫描电镜作为微区分析检测场景的理想选择,在保证稳定运行与便捷操作的基础上,通过集成了多探测器系统与样品减速功能,突破低加速电压下的分辨率限制。在兼顾性能可靠性与使用成本的前提下,为现代材料分析实验室提供可靠的解决方案






探测器系统

多探测器系统

突破单一信号局限,可实现形貌与成分衬度同屏呈现,帮助用户在单次观测中获取样品的表面结构与材料成分分布特征。

插入式背散射电子探测器

均匀抛光的多晶材料中,背散射电子强度由电子束与晶面取向决定,取向差越大晶粒越亮,可表征晶粒取向分布。

镜筒内电子探测器 (Inlens)

SBA-15分子筛/500 V/未喷金/样品台减速

仓室内二次电子探测器 (ETD)

BN陶瓷纳米片,利用ETD探测器表征片层结构。

插入式扫描透射电子探测器 (STEM)

应用案例

电子半导体

在半导体行业内,制程工艺会伴随各种微观缺陷,为了保障芯片的高良率,会引入专业的微观表征设备进行检测,其中利用扫描电镜进行高分辨形貌分析是不可或缺的排查手段。

SEM4000X/芯片封装截面/10 kV/BSED

SEM4000X/BONDING球/10 kV/BSED

锂电池/新能源材料

在新能源与锂电池制造中,材料的微观缺陷极易引发热失控,为了保障电芯的****与性能,需要利用扫描电镜进行正负极材料和隔膜材料的检测。

SEM4000X/负极材料/5 kV/BSED

SEM4000X/锂电材料/1 kV/ETD

高分子材料

在高分子材料研发与改性中,微观形貌与断口结构直接决定性能,为了探究其内在机理,利用扫描电镜进行低电压形貌观察是非常重要的表征方法。

SEM4000X/纳米纤维/5 kV/ETD

SEM4000X/冷冻传输水凝胶/2 kV/MIX

生命科学

在生命科学中,组织形态与成分的微观结构直接关乎生理演变。借助扫描电镜可深度还原生物样品的微观形貌。

SEM4000X/脑组织半薄切片500nm/2 kV/BSED

SEM4000X/硅藻/5 kV/ETD

金属材料

在金属材料研发与制造中,零部件常遭遇疲劳或腐蚀失效,为了探究其根本原因,需要借助专业的显微结构表征设备进行检测,其中扫描电镜是极为重要的设备之一。

SEM4000X/金属涂层/2 kV/MIX

SEM4000X/金属断口/10 kV/ETD

功能材料与新材料

在功能与新材料的研发中,微观形貌与特殊结构直接决定其*终性能。扫描电镜作为专业表征工具,可以很好的对新材料的微观形貌表征。

SEM4000X/硅球/3 kV/MIX

SEM4000X/陶瓷粉末/1 kV/MIX



产品参数

关键参数: 电子枪类型 肖特基场发射电子枪
分辨率 0.7 nm @ 15 kV
1.1 nm @ 1 kV
1.9 nm @ 500 V
加速电压 20 V ~ 30 kV
放大倍率 1 ~ 2,500,000x
位移台(大行程可选): 位移台类型 五轴机械优中心位移台
探测器 镜筒内电子探测器(Inlens)
旁侧电子探测器 (ETD)
插入式背散射电子探测器 (BSED)
插入式扫描透射电子探测器 (STEM)
能谱仪 (EDS)
背散射衍射 (EBSD)
扩展 样品台减速模式
低真空模式
样品交换仓
旋钮板&轨迹球
样品台 五轴优中心马达驱动样品台 X方向:110mm,Y方向:110mm,Z方向:65mm,T:-10~70°(倾斜),R=360°(旋转)
*可接受微定制服务 ● 标配 ○ 选配
产品参数



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